Espectrómetro de fluorescencia de rayos X(XRF)

El espectrómetro de fluorescencia de rayos X (XRF) es un método de medición de material rápido y no destructivo, utilizado principalmente para proporcionar análisis químicos, elementales y de oligoelementos, tiene la capacidad de cuantificar o calificar de manera no destructiva casi cualquier elemento, desde magnesio hasta uranio. Es ampliamente utilizado en análisis elemental y análisis químico, especialmente en la investigación e investigación de metales, vidrio, cerámica y materiales de construcción, geoquímica, forense, arqueología y obras de arte, como pinturas al óleo y murales. En comparación con otras técnicas analíticas, la XRF requiere muy poca o ninguna preparación de muestras, y es de bajo costo.